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弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析
更新时间:2026-07-10
    • 弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析

    • Issue 6, Pages: 72-76(2012)
    • CLC: TN253
    • Published:2012

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  • 李琳莹, 杨世信, 甘露, et al. 弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析[J]. 2012, (6): 72-76. DOI:

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