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基于剪切波变换对Si3N4陶瓷轴承内圈沟道表面缺陷检测的分析
更新时间：2025-03-14

    • 基于剪切波变换对Si3N4陶瓷轴承内圈沟道表面缺陷检测的分析

    • Vol. 39, Issue 1, Pages: 231-239(2024)

    • DOI：10.13224/j.cnki.jasp.20210396    

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  • 廖达海, 殷明帅, 罗宏斌, et al. 基于剪切波变换对Si3N4陶瓷轴承内圈沟道表面缺陷检测的分析[J]. 2024, 39(1): 231-239. DOI: 10.13224/j.cnki.jasp.20210396. DOI：

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