Chinese
您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
Test and infection evaluate of the spurious emission of WLAN equipment in the frequency span of 2300～2400MHz
更新时间：2026-04-20

    • Test and infection evaluate of the spurious emission of WLAN equipment in the frequency span of 2300～2400MHz

    • Vol. 24, Issue 4, Pages: 36-40(2011)

    • DOI：10.13992/j.cnki.tetas.2011.04.024    

      CLC： TN929.5

    • Published：2011

    移动端阅览

  • 梁童, 孟德香, 何继伟, et al. Test and infection evaluate of the spurious emission of WLAN equipment in the frequency span of 2300～2400MHz[J]. 2011, 24(4): 36-40. DOI： 10.13992/j.cnki.tetas.2011.04.024.

  •  
  •  
icon
试读结束，您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束，您可以通过登录账户，到个人中心，购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员？
去登录 >

0

Views

70

下载量

4

CSCD

Alert me when the article has been cited
提交
Tools
Download
Export Citation
Share
Add to favorites
Add to my album

Related Articles

TD-LTE and WLAN inter-system interference analysis
Analysis on the jointly developing strategy of the wireless Networks
Co-existence Study of TD-LTE System and WLAN System
Research on the adjustment scheme of TD-LTE SubframeAssignment to deal with atmosphere duct
Research on optimizing the network planning of high-speed rail TD-LTE double-layer network

Related Author

吕晨光
郭建光
郭陵
李彦华
农冬菊
黄盛俊
黎震涛
邓钰川

Related Institution

中国移动通信集团设计院有限公司河北分公司
中国移动通信集团设计院有限公司上海分公司
中国移动通信集团广西有限公司北海分公司
中国移动通信集团设计院有限公司陕西分公司
中国移动通信集团设计院有限公司内蒙古分公司
0