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基于CAE技术的电子琴上盖塑件的熔接痕缺陷优化研究
更新时间：2026-07-30

    • 基于CAE技术的电子琴上盖塑件的熔接痕缺陷优化研究

    • Vol. 42, Issue 6, Pages: 140-144(2013)

    • DOI：10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2013.06.042    

      CLC：

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  • 顾海, 卢文壮. 基于CAE技术的电子琴上盖塑件的熔接痕缺陷优化研究[J]. 2013, 42(6): 140-144. DOI： 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2013.06.042.

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