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基于轮廓提取的电路板缺陷检测
更新时间：2026-07-30

    • 基于轮廓提取的电路板缺陷检测

    • Vol. 47, Issue 2, Pages: 171-174(2018)

    • DOI：10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2018.02.047    

      CLC：

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  • 刘西锋, 胡玉薇. 基于轮廓提取的电路板缺陷检测[J]. 2018, 47(2): 171-174. DOI： 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2018.02.047.

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