“龙腾”S2微处理器测试结构设计

陈超; 王党辉; 张盛兵; 王得利

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“龙腾”S2微处理器测试结构设计

更新时间：2026-09-04

- “龙腾”S2微处理器测试结构设计
- Test Structure Design of "Longtium" S2 Micro-Processor
- 微电子学与计算机 2010年27卷第1期页码：109-112
- 作者机构：
  
  西北工业大学计算机学院,陕西,西安,710072
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2010
- 稿件说明：
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陈超, 王党辉, 张盛兵, 王得利. “龙腾”S2微处理器测试结构设计[J]. 微电子学与计算机, 2010, 27(1): 109-112.

CHEN Chao, WANG Dang-hui, ZHANG Sheng-bing, et al. Test Structure Design of "Longtium" S2 Micro-Processor[J]. 2010, 27(1): 109-112.
陈超, 王党辉, 张盛兵, 王得利. “龙腾”S2微处理器测试结构设计[J]. 微电子学与计算机, 2010, 27(1): 109-112. DOI：

CHEN Chao, WANG Dang-hui, ZHANG Sheng-bing, et al. Test Structure Design of "Longtium" S2 Micro-Processor[J]. 2010, 27(1): 109-112. DOI：

摘要

介绍了“龙腾”S2微处理器测试结构设计方法

详细讨论了采用全扫描测试、内建自测试 (BIST) 等可测性设计 (DFT) 技术.该处理器与PC104全兼容

设计中的所有寄存器采用全扫描结构

设计中的存储器采用内建自测试

整个设计使用JTAG作为测试接口.通过这些可测性设计

使芯片的故障覆盖率达到了100%

能够满足流片后测试需求.

Abstract

This paper presents the test architecture of "Longtium" S2 micro-processor

adopted full scan test

Built-In Self Test (BIST) etc.Design For Test (DFT) .The processor is full compatible with PC104

In our design

all registers was structured by full scan

all memories were applied with BIST

whole design used JTAG for test interface.All those made faults coverage of the chip to come to 100%.

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