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考虑测试功耗的扫描链划分新方法
更新时间:2026-09-04
    • 考虑测试功耗的扫描链划分新方法

    • Scan Chain Partition New Approach Considering Test Power Reduction

    • 微电子学与计算机   2010年27卷第1期 页码:144-146
    • 纸质出版:2010

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  • 王冠军, 赵莹, 王茂励. 考虑测试功耗的扫描链划分新方法[J]. 微电子学与计算机, 2010, 27(1): 144-146,150. DOI:

    WANG Guan-jun, ZHAO Ying, WANG Mao-li. Scan Chain Partition New Approach Considering Test Power Reduction[J]. 2010, 27(1): 144-146. DOI:

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