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一种面向单片DC/DC的低压高效片上电流检测技术
更新时间:2026-09-04
    • 一种面向单片DC/DC的低压高效片上电流检测技术

    • A Kind of Low-Voltage High-efficient On-chip Current Testing Technology for Monolithic DC/DC

    • 微电子学与计算机   2012年29卷第10期 页码:55-59
    • 纸质出版:2012

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  • 魏海龙, 刘佑宝, 刘智, 廖雪. 一种面向单片DC/DC的低压高效片上电流检测技术[J]. 微电子学与计算机, 2012, 29(10): 55-59. DOI:

    WEI Hai-long, LIU You-bao, LIU Zhi, et al. A Kind of Low-Voltage High-efficient On-chip Current Testing Technology for Monolithic DC/DC[J]. 2012, 29(10): 55-59. DOI:

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