汽车电子MCU的抗EMI设计与测试方案

于梦溪; 王海欣; 黑勇

Chinese

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

汽车电子MCU的抗EMI设计与测试方案

更新时间：2026-09-04

- 汽车电子MCU的抗EMI设计与测试方案
- Anti-EMI Design and Test Scheme for Automotive MCU
- 微电子学与计算机 2014年31卷第1期页码：142-147
- 作者机构：
  
  中国科学院机构微电子研究所,北京,100029
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金青年基金项目（61006023）
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2014
- 稿件说明：
移动端阅览
于梦溪, 王海欣, 黑勇. 汽车电子MCU的抗EMI设计与测试方案[J]. 微电子学与计算机, 2014, 31(1): 142-147.

YU Meng-xi, WANG Hai-xin, HEI Yong. Anti-EMI Design and Test Scheme for Automotive MCU[J]. 2014, 31(1): 142-147.
于梦溪, 王海欣, 黑勇. 汽车电子MCU的抗EMI设计与测试方案[J]. 微电子学与计算机, 2014, 31(1): 142-147. DOI：

YU Meng-xi, WANG Hai-xin, HEI Yong. Anti-EMI Design and Test Scheme for Automotive MCU[J]. 2014, 31(1): 142-147. DOI：

摘要

针对汽车电子MCU的电磁兼容设计，提出了一些可行性的方法，主要包括时钟以及IO端口的设计，并且根据芯片级测试标准IEC61967的传导发射测试——1Ω/150Ω直接耦合法，进行适合汽车电子MCU的电磁干扰测试.经过样本数据的分析发现，芯片级电磁干扰与时钟频率、功能模块类别以及工作模式等有着密切的关系.

Abstract

Proposing some effective methods for electromagnetic capability of Automotive MCU

including clock and IO port design.According to conducted emissions test of IEC 61967——1Ω/150Ω direct coupling method for electromagnetic interference

a test suitable for Automotive MCU is done in the paper.From analysis result of sample data

electromagnetic interference of chip level has close relationship with clock

characteristics of function module and operation mode.

关键词

Keywords

references

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

基于改进RT-DETR的航拍小目标检测算法

基于多尺度融合与小目标增强的航拍车辆检测算法

一种用于极低压boost系统的高效率电荷泵

低功耗设计的双链电源关断策略的实现与验证

V型沟槽SiC中子探测器的蒙特卡洛分析