基于反熔丝的FPGA的测试方法

马金龙; 卢礼兵

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基于反熔丝的FPGA的测试方法

更新时间：2026-09-04

- 基于反熔丝的FPGA的测试方法
- Test Methods for Antifuse-Based FPGAs
- 微电子学与计算机 2016年33卷第8期页码：168-172
- 作者机构：
  
  中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏,无锡,214035
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2016
- 稿件说明：
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马金龙, 卢礼兵. 基于反熔丝的FPGA的测试方法[J]. 微电子学与计算机, 2016, 33(8): 168-172.

MA Jin-long, LU Li-bing. Test Methods for Antifuse-Based FPGAs[J]. 2016, 33(8): 168-172.
马金龙, 卢礼兵. 基于反熔丝的FPGA的测试方法[J]. 微电子学与计算机, 2016, 33(8): 168-172. DOI：

MA Jin-long, LU Li-bing. Test Methods for Antifuse-Based FPGAs[J]. 2016, 33(8): 168-172. DOI：

摘要

首先介绍了基于反熔丝的FPGA的典型结构

接着介绍了基于反熔丝的FPGA的可编程逻辑模块(PLM)、布局布线以及可编程互连资源

然后讨论了基于反熔丝的FPGA的测试模式

最后提出了一种ATE和实装板相结合的测试方法

实验结果表明

该测试方法在芯片未编程状态下

实现了对基于反熔丝的FPGA的测试.

Abstract

The classic architecture of antifuse-based FPGAs was described. Then the details about programmable logic module (PLM)

placement and routing

programmable interconnection of antifuse-based FPGAs was presented. According to the test patterns of antifuse-based FPGA

a method for antifuse-based FPGA test

which combined ATE and mounting plate

was proposed. The results of the test experiments showed that the employed method can achieve successful test and confirmation of unprogrammed device at the factory.

关键词

Keywords

references

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