基于FPGA的亚稳态参数测量方法

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基于FPGA的亚稳态参数测量方法

更新时间：2026-09-04

- 基于FPGA的亚稳态参数测量方法
- Metastable Parameter Measurement Method Based on FPGA
- 微电子学与计算机 2016年33卷第10期页码：46-49
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  中图分类号：
- 纸质出版：2016
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基于FPGA的亚稳态参数测量方法[J]. 微电子学与计算机, 2016, 33(10): 46-49.

Metastable Parameter Measurement Method Based on FPGA[J]. 2016, 33(10): 46-49.
基于FPGA的亚稳态参数测量方法[J]. 微电子学与计算机, 2016, 33(10): 46-49. DOI：

Metastable Parameter Measurement Method Based on FPGA[J]. 2016, 33(10): 46-49. DOI：

摘要

由于FPGA在高安全领域应用中需对跨时钟域电路可靠性(MTBF)进行评估

而亚稳态参数τ值是影响跨时钟域电路MTBF的关键参数.本文提出一种步进式测量FPGA器件亚稳态参数τ值的方法; 然后以FPGA内部的数字时间管理模块为基础设计测试电路.通过对典型FPGA芯片进行实验

结果分析表明采用该方法能够有效测试出FPGA亚稳态参数和T值

且操作简便快捷.

Abstract

Due to the FPGA necessary to evaluate the reliability of clock domain circuit in safe-critical applications. Metastable parameter is a key parameter to influence the clock domain circuits MTBF value. This paper first put forward a step-down method to measure the FPGA devices metastable parameters . Then design the test circuit which use the internal FPGA digital time management module. The experiment result which based on the typical FPGA chip shows that the step-down method can effectively test the FPGA metastable parameterτ and T

and is easy and convenient to operation.

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