基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究

颜学龙; 何正亮; 陈寿宏

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基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究

更新时间：2026-09-04

- 基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究
- Test and Debug Technologic Research on Multi-TAPC Chip Based on IEEE 1149.7 Standard
- 微电子学与计算机 2016年33卷第12期页码：71-74
- 作者机构：
  
  1. 桂林电子科技大学机构电子工程与自动化学院,广西,桂林,541004
  2. 广西自动检测技术与仪器重点实验室,广西,桂林,541004
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  广西自动检测技术与仪器重点实验室基金项目 YQ15101
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2016
- 稿件说明：
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颜学龙, 何正亮, 陈寿宏. 基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究[J]. 微电子学与计算机, 2016, 33(12): 71-74, 79.

YAN Xue-long, HE Zheng-liang, CHEN Shou-hong. Test and Debug Technologic Research on Multi-TAPC Chip Based on IEEE 1149.7 Standard[J]. 2016, 33(12): 71-74.
颜学龙, 何正亮, 陈寿宏. 基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究[J]. 微电子学与计算机, 2016, 33(12): 71-74, 79. DOI：

YAN Xue-long, HE Zheng-liang, CHEN Shou-hong. Test and Debug Technologic Research on Multi-TAPC Chip Based on IEEE 1149.7 Standard[J]. 2016, 33(12): 71-74. DOI：

摘要

以CJTAG标准和JTAG标准为依据

在深入研究这两个标准的基础上

利用Quartus Ⅱ开发平台和Verilog HDL语言设计了多TAPC结构

并用Modelsim进行仿真验证

结果表明多TAPC结构能够有效地对多TAPC芯片进行测试和调试.

Abstract

In this paper

based on the JTAG Standard and CJTAG Standard

in-depth study on the standards

using the Platform of Quartus Ⅱ and Verilog HDL language to design multi-TAPC architecture and simulation by using the Modelsim simulation tool. The results indicate that multi TAPC architecture can be effictively tested and debugged multi TAPC chip.

关键词

Keywords

references

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