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用谱半径和迹实现模拟电路故障诊断与参数辨识
更新时间:2026-09-04
    • 用谱半径和迹实现模拟电路故障诊断与参数辨识

    • Using Spectral Radius with Trace to Achieve Fault Diagnosis and Parametric Identification for Analog Circuits

    • 微电子学与计算机   2016年33卷第11期 页码:109-113
    • 纸质出版:2016

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  • 周启忠, 谢永乐, 谢暄. 用谱半径和迹实现模拟电路故障诊断与参数辨识[J]. 微电子学与计算机, 2016, 33(11): 109-113, 118. DOI:

    ZHOU Qi-zhong, XIE Yong-le, XIE Xuan. Using Spectral Radius with Trace to Achieve Fault Diagnosis and Parametric Identification for Analog Circuits[J]. 2016, 33(11): 109-113. DOI:

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