一种反熔丝FPGA的可配置传输延迟测试电路

杜涛; 李威; 晁醒; 吴方明; 吴华刚; 刘丹

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一种反熔丝FPGA的可配置传输延迟测试电路

更新时间：2026-09-04

- 一种反熔丝FPGA的可配置传输延迟测试电路
- A Configurable Test Circuit of Propagation Delay for Antifuse FPGA
- 微电子学与计算机 2018年35卷第2期页码：84-88
- 作者机构：
  
  电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室机构,四川,成都,610054
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2018
- 稿件说明：
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杜涛, 李威, 晁醒, 吴方明, 吴华刚, 刘丹. 一种反熔丝FPGA的可配置传输延迟测试电路[J]. 微电子学与计算机, 2018, 35(2): 84-88, 93.

DU Tao, LI Wei, CHAO Xing, et al. A Configurable Test Circuit of Propagation Delay for Antifuse FPGA[J]. 2018, 35(2): 84-88.
杜涛, 李威, 晁醒, 吴方明, 吴华刚, 刘丹. 一种反熔丝FPGA的可配置传输延迟测试电路[J]. 微电子学与计算机, 2018, 35(2): 84-88, 93. DOI：

DU Tao, LI Wei, CHAO Xing, et al. A Configurable Test Circuit of Propagation Delay for Antifuse FPGA[J]. 2018, 35(2): 84-88. DOI：

摘要

为了对反熔丝FPGA进行性能评估及芯片速度等级的定级划分

提出了采用传输延迟参数测试法进行分析.针对反熔丝FPGA一次可编程及应用需求多样性的特点

设计了一种包含完整传输延迟影响因素的专用测试电路

该电路能对测试链路级数、布线长度、散出数等多方面进行差异化配置

从而形成了具有实用性和通用性的反熔丝FPGA性能评估解决方案.通过电路仿真及1.0 μm CMOS ONO反熔丝工艺硅验证实测表明

该传输延迟测试电路能实际应用于反熔丝FPGA的产品开发.

Abstract

In order to evaluate the performance of the antifuse FPGA and classify the chip speed level

a test method of propagation delay is proposed. Aimed at the characteristics of one time programmable and diverse application requirements for the antifuse FPGA

a novel test circuit is designed

which includes the influencing factors of the propagation delay. The circuit exhibits a variety of configurable capacity

including the test link configuration

the routing length configuration

the fanout value configuration

etc. The performance evaluation solution for the antifuse FPGA is practical and feasible. The results of the circuit simulation and the silicon verification based on the 1.0um CMOS ONO antifuse process show that the test circuit of propagation delay is suitable for the application of antifuse FPGA development.

关键词

Keywords

references

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