基于FPGA的OCTA NOR Flash存储芯片高效测试方法

沈欣; 陈良权; 高敏; 林媛

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基于FPGA的OCTA NOR Flash存储芯片高效测试方法

更新时间：2026-09-04

- 基于FPGA的OCTA NOR Flash存储芯片高效测试方法
- A high efficiency testing method for OCTA NOR Flash memory device with FPGA
- 微电子学与计算机 2019年36卷第10期页码：65-67
- 作者机构：
  
  1. 电子科技大学电子科学与工程学院,四川,成都,610054
  2. 苏州诺存微电子有限公司,江苏,苏州,215311
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2019
- 稿件说明：
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沈欣, 陈良权, 高敏, 林媛. 基于FPGA的OCTA NOR Flash存储芯片高效测试方法[J]. 微电子学与计算机, 2019, 36(10): 65-67, 72.

SHEN Xin, CHEN Liang-quan, GAO Min, et al. A high efficiency testing method for OCTA NOR Flash memory device with FPGA[J]. 2019, 36(10): 65-67.
沈欣, 陈良权, 高敏, 林媛. 基于FPGA的OCTA NOR Flash存储芯片高效测试方法[J]. 微电子学与计算机, 2019, 36(10): 65-67, 72. DOI：

SHEN Xin, CHEN Liang-quan, GAO Min, et al. A high efficiency testing method for OCTA NOR Flash memory device with FPGA[J]. 2019, 36(10): 65-67. DOI：

摘要

针对OCTA NOR Flash的测试占用接口多

传统测试方法耗时较长的问题

提出了一种基于I/O口共用的OCTA NOR Flash高效测试系统及方法

以FPGA作为控制器

将测试指令传输给多颗Flash芯片

FPGA接收Flash芯片传回的数据后经过处理

可显示到相应的显示装置上.实际验证了系统的可行性.实际验证的结果表明

在测试过程中

数据传输稳定

无误码.

Abstract

Abased on I/O ports sharing high efficiency testing method for the testing of OCTA NOR Flash memory device is proposed.By using the FPGA as the controller

the testing instructions can be transmitted to multiple Flash memory devices and the testing data can be processed by FPGA and display to display device.The verification results also show stable and error-free data transmission can be realized in this method.

关键词

Keywords

references

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