忆阻器的三值逻辑门和加法器设计

钟纬坤; 李景虎; 付方发

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忆阻器的三值逻辑门和加法器设计

更新时间：2026-09-04

- 忆阻器的三值逻辑门和加法器设计
- A fast method of MCU trimming and testing
- 微电子学与计算机 2021年38卷第7期页码：60-66
- 作者机构：
  
  1. 福建农林大学机构,福建,福州,360000
  2. 哈尔滨工业大学,黑龙江,哈尔滨,163712
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家重点研究计划项目 2018YFB2201000福建省自然科学基金项目 2019J01662
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2021
- 稿件说明：
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钟纬坤, 李景虎, 付方发. 一种快速MCU修调测试方法[J]. 微电子学与计算机, 2021, 38(7): 67-72.

ZHONG Weikun, LI Jinghu, FU Fangfa. A fast method of MCU trimming and testing[J]. 2021, 38(7): 60-66.
钟纬坤, 李景虎, 付方发. 一种快速MCU修调测试方法[J]. 微电子学与计算机, 2021, 38(7): 67-72. DOI：

ZHONG Weikun, LI Jinghu, FU Fangfa. A fast method of MCU trimming and testing[J]. 2021, 38(7): 60-66. DOI：

摘要

为降低具有高精度要求和功能丰富的MCU的修调测试成本，提出一种快速高效的MCU修调测试方法.此方法是将MCU芯片成品通过Flash自动修调补偿来控制电路的输出基准和频率，或者是调整电流，从而实现自动化修调MCU芯片的效果，同时控制MCU模拟从不同pin脚上输出到测试仪器，然后再由软件自动记录测试结果.修调测试使用的是一款工业级8051芯片.测试结果表明: 经过这种修调测试方法可以使MCU满足输出精度要求且能快速得到MCU模拟信号输出，并有效地降低MCU的修调测试成本.

Abstract

In order to reduce the cost of MCU trim test with high precision requirements and rich functions

a fast and efficient MCU trim test method is proposed. This method controls the output reference and frequency of the circuit through Flash automatic adjustment and compensation of the produced MCU chip

or adjusts the current to realize the effect of automatic adjustment of the MCU chip

and controls the MCU analog output to be output from different pins to the test. Furthermore

the instrument automatically records the test results by the software. The trim test uses an industrial grade 8051 chip. The test results show that through this trimming test method

the MCU can not only meet the output accuracy requirements but also quickly obtain the MCU analog signal output

which effectively reduces the MCU trim test cost.

关键词

Keywords

references

邹敏瀚, 柯学, 金玉丰, 等. 一种片后数字修调技术及其应用[J]. 微电子学, 2006, 36(5): 666-669. DOI: 10.3969/j.issn.1004-3365.2006.05.033. ZOU M H, KE X, JIN Y F, et al. A digital trim technology and its application[J]. Microelectronics, 2006, 36(5): 666-669. DOI: 10.3969/j.issn.1004-3365.2006.05.033.

赵来钖, 刘明磊. MCU内嵌高精度OSC的补正方法[J]. 中国集成电路, 2015, 24(8): 30-33. DOI: 10.3969/j.issn.1681-5289.2015.08.004. ZHAO L Y, LIU M L. Embodied high accuracy OSC trimming method of MCU[J]. China Integrated Circuit, 2015, 24(8): 30-33. DOI: 10.3969/j.issn.1681-5289.2015.08.004.

谢炜. Flyback型数字电源模拟关键电路的研究与设计[D]. 成都: 西南交通大学, 2018. XIE W. Research and design for Flyback digital power critical analog circuits[D]. Chengdu: Southwest Jiaotong University, 2018.

李涛. 高精度多通道逐次逼近型模数转换器测试与修调[D]. 成都: 电子科技大学, 2014. LI T. The testing and trimming of high-precision multi-channel successive approximation ADC[D]. Chengdu: University of Electronic Science and Technology of China, 2014.

沈红莉, 徐静平, 钟德刚, 等. 一种用于温补晶振的EEPROM修调电路设计[J]. 微电子学与计算机, 2011, 28(6): 100-104. DOI: 10.19304/j.cnki.issn 1000-7180.2011.06.024. SHEN H L, XU J P, ZHONG D G, et al. Design of the EEPROM trimming circuit for the temperature compensated crystal oscillator[J]. Microelectronics % Computer, 2011, 28(6): 100-104. DOI: 10.19304/j.cnki.issn 1000-7180.2011.06.024.

Beijing HENNESSY J L, PATTERSON D A. Computer architecture: a quantitative approach[M]. Beijing: China Machine Press, 2007.

王欢. 一款高性能开关电源芯片的修调方案分析与设计[D]. 成都: 电子科技大学, 2014. WANG H. Design and analysis of trimming solutions for a high-performance switching mode power supply chip[D]. Chengdu: University of Electronic Science and Technology of China, 2014.

张敏森, 余庆, 杨勇. 电源类芯片测试修调方法及问题分析[J]. 电子质量, 2018(3): 11-14. DOI: 11 ZHANG M S, YU Q, YANG Y. Power class chip trimming problem of parametric testing[J]. Electronics Quality, 2018(3): 11-14. DOI: 11

闫书芳. 一种采用UART接口对智能电表MCU自动频率修调方法[J]. 集成电路应用, 2020, 37(2): 48-49. DOI: 48 YAN S F. Method of automatic frequency adjustment of MCU by UART interface for intelligent meter[J]. Application of IC, 2020, 37(2): 48-49. DOI: 48

葛南, 陈东坡. ATE测试中的Bandgap Trim技术研究[J]. 微电子学与计算机, 2015, 32(4): 70-74. DOI: 10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2015.04.015. GE N, CHEN D P. The research of Bandgap Trim for ATE test[J]. Microelectronics % Computer, 2015, 32(4): 70-74. DOI: 10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2015.04.015.

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