您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
涂覆新一代涂层体系的光纤拉伸性能测试方法的探讨及改进
通信光缆电缆 | 更新时间:2026-07-10
    • 涂覆新一代涂层体系的光纤拉伸性能测试方法的探讨及改进

    • 涂覆新一代涂层体系的光纤拉伸性能测试方法的探讨及改进

    • 现代传输   2011年第5期 页码:55-59
    • 中图分类号: TN253
    • 纸质出版:2011

    移动端阅览

  • [1]Long Han,Xiaosong Wu,Steven R.Schmid,Pratik Shah,Alex Li,Jackie Zhao.涂覆新一代涂层体系的光纤拉伸性能测试方法的探讨及改进[J].现代传输,2011(05):55-59. DOI:

    Long Han, Xiaosong Wu, Steven R.Schmid, et al. 涂覆新一代涂层体系的光纤拉伸性能测试方法的探讨及改进[J]. 2011, (5): 55-59. DOI:

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

浏览量

120

下载量

0

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

光缆拉伸试验中缆应变的测试方法及装置
光缆拉伸试验对拉伸装置的几点要求及解决办法
光缆拉伸试验中的问题与探索
基于EKF的迭代滤波欺骗信号检测与抑制方法
高纤芯密度综合布线解决方案研究与应用

相关作者

李然山
何伟
李然山
王则民

相关机构

邮电部第五研究所
0