G.657.A2是一种优化了抗弯性能的全谱单模光纤

和传统的G.657.A1弯曲改善型单模光纤相比

它大幅提升了光纤的抗弯表现。由于这种光纤的性能满足ITU-T G.657.A2标准

同时完全符合ITU-T G.652.D标准

与已经广泛铺设的G.652标准单模光纤能无缝兼容

目前在国内FTTH的建设中得到广泛的应用。但在测试弯曲损耗不敏感G.657.A2光纤1310nm处模场直径时

特别是测宏弯性能优异的G.657.A2光纤时

如果仍然采用针对传统标准G 652光纤测试条件:即在2m试样光纤上绕一半径为30mm圈作为高阶模的滤模器

并不总能有效滤除高阶模

当高阶模未完全滤除时

会出现测试光纤的模场直径比其真实的模场直径偏小的现象。本文通过试验的方法研究分析了高阶模对模场直径的影响和可能的消除办法

多个试验结果表明:图1b和图1c所示两种测试方法完全能够满足国家标准、国际标准的测试要求

且两种方法测试模场直径的均值无显著差异（p

<

0.05）。由于G.657.A2光纤标准要求λ

cc

≤1260nm

可以保证22m光纤或光缆试样的"对应截止波长"≤1260nm

故用图1c条件可测得正确的1310nm处MFD值。