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弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析
通信光缆电缆 | 更新时间:2026-07-10
    • 弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析

    • 弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析

    • 现代传输   2012年第6期 页码:72-76
    • 中图分类号: TN253
    • 纸质出版:2012

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  • [1]李琳莹,杨世信,甘露,宋志佗,李春生,王振岳,朱博,冀忠宝.弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析[J].现代传输,2012(06):72-76. DOI:

    李琳莹, 杨世信, 甘露, et al. 弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析[J]. 2012, (6): 72-76. DOI:

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杨亚宁

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