您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
微弯测试方法C解析与优化
测量及标准 | 更新时间:2026-07-10
    • 微弯测试方法C解析与优化

    • 微弯测试方法C解析与优化

    • 现代传输   2016年第5期 页码:63-66
    • 中图分类号: TN253
    • 纸质出版:2016

    移动端阅览

  • [1]王小泉,谢晓红,曹姗姗,李春生.微弯测试方法C解析与优化[J].现代传输,2016(05):63-66. DOI:

    王小泉, 谢晓红, 曹姗姗, et al. 微弯测试方法C解析与优化[J]. 2016, (5): 63-66. DOI:

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

浏览量

16

下载量

1

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

基于OPPC的温度和应力光纤光栅传感技术
航海通信导航设备中通信线路的抗干扰技术探究
2026年第二批通信行业标准正式立项
C6WG4光器件工作组举办“OFC热点技术”分享会
央视实地探访亨通光纤|抢抓AI算力机遇,深耕光通信全产业链布局

相关作者

徐拥军
谢书鸿
栗鸣
蔡飞飞

相关机构

中天日立光缆有限公司
中天科技股份有限公司
0