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边界扫描测试技术在雷达BIT电路中的应用
更新时间：2026-07-27

    • 边界扫描测试技术在雷达BIT电路中的应用

    • The Application of Boundary Scan Test Technology in Radar BIT Circuit

    • 现代雷达   2000年第1期 页码：50-53

    • 修回：1999-01-17，

    移动端阅览

  • 察豪, 杨智, 冷东方. 边界扫描测试技术在雷达BIT电路中的应用[J]. 现代雷达, 2000, (1): 50-53. DOI：

    Cha Hao, Yang Zhi, Leng Dongfang. The Application of Boundary Scan Test Technology in Radar BIT Circuit[J]. Modern Radar, 2000, (1): 50-53. DOI：

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