基于CPLD的微型继电器时间参数测试电路设计

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测控技术与通信工程 | 更新时间：2026-08-31

- 基于CPLD的微型继电器时间参数测试电路设计
- 基于CPLD的微型继电器时间参数测试电路设计
- 哈尔滨理工大学学报 2013年18卷第6期页码：38-041
- 作者机构：
  
  哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TM581.3;TN930.2
- 纸质出版：2013
- 稿件说明：
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杨少军, 童子权, 姜月明, 等. 基于CPLD的微型继电器时间参数测试电路设计[J]. 哈尔滨理工大学学报, 2013,18(6):38-041.

YANG Shao-jun, TONG Zi-quan, JIANG Yue-ming, et al. 基于CPLD的微型继电器时间参数测试电路设计[J]. 2013, 18(6): 38-041.
杨少军, 童子权, 姜月明, 等. 基于CPLD的微型继电器时间参数测试电路设计[J]. 哈尔滨理工大学学报, 2013,18(6):38-041. DOI：

YANG Shao-jun, TONG Zi-quan, JIANG Yue-ming, et al. 基于CPLD的微型继电器时间参数测试电路设计[J]. 2013, 18(6): 38-041. DOI：

为了便于技术人员对继电器进行筛选

本文提出了一种基于单片CPLD的微型电磁继电器时间参数(吸合时间、释放时间、触点回跳时间)的测试方法

充分利用CPLD的资源来实现继电器多个时间参数的测量

给出了测试电路的硬件结构及各个部分的电路原理图

并通过实验进行了验证.确定其量程为0~99.99 ms

最小分辨率为1μs.该电路具有测量速度快、体积小、成本低和操作简单等优点. 更多还原

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