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密封式继电器触点形貌与腐蚀类型关联性分析
更新时间:2026-10-23
    • 密封式继电器触点形貌与腐蚀类型关联性分析

    • Correlation analysis between contact topography and corrosion type of sealed relay

    • 哈尔滨工业大学学报   2018年50卷第9期 页码:180-185
    • DOI:10.11918/j.issn.0367-6234.201705090    

      中图分类号: TM58
    • 纸质出版:2018

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  • 李文华, 李爽, 周露露, 等. 密封式继电器触点形貌与腐蚀类型关联性分析[J]. 哈尔滨工业大学学报, 2018,50(9):180-185. DOI: 10.11918/j.issn.0367-6234.201705090.

    LI Wenhua, LI Shuang, ZHOU Lulu, et al. Correlation analysis between contact topography and corrosion type of sealed relay[J]. 2018, 50(9): 180-185. DOI: 10.11918/j.issn.0367-6234.201705090.

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