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光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法
更新时间:2026-10-23
    • 光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法

    • Nondestructive fluorescence detection method for subsurface damage depth of optics

    • 哈尔滨工业大学学报   2018年50卷第7期 页码:17-22
    • DOI:10.11918/j.issn.0367-6234.201707091    

      中图分类号: TG115.28
    • 纸质出版:2018

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  • 侯晶, 王洪祥, 王储, 等. 光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法[J]. 哈尔滨工业大学学报, 2018,50(7):17-22. DOI: 10.11918/j.issn.0367-6234.201707091.

    HOU Jing, WANG Hongxiang, WANG Chu, et al. Nondestructive fluorescence detection method for subsurface damage depth of optics[J]. 2018, 50(7): 17-22. DOI: 10.11918/j.issn.0367-6234.201707091.

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