移动端阅览
宋林林, 于敏, 何青松, 等. IPMC电学性能的实验研究[J]. 机械制造与自动化, 2012,41(6):130-132+135.
宋林林, 于敏, 何青松, et al. IPMC电学性能的实验研究[J]. 2012, 41(6): 130-132+135.
宋林林, 于敏, 何青松, 等. IPMC电学性能的实验研究[J]. 机械制造与自动化, 2012,41(6):130-132+135. DOI: 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2012.06.041.
宋林林, 于敏, 何青松, et al. IPMC电学性能的实验研究[J]. 2012, 41(6): 130-132+135. DOI: 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2012.06.041.
0
浏览量
136
下载量
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构