基于电子散斑干涉技术的微变形场测量及残余应力分析

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基于电子散斑干涉技术的微变形场测量及残余应力分析

信息技术 | 更新时间：2026-07-30

- 基于电子散斑干涉技术的微变形场测量及残余应力分析
- 基于电子散斑干涉技术的微变形场测量及残余应力分析
- 机械制造与自动化 2014年43卷第2期页码：144-146
- 作者机构：
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国防技术基础科研项目(C1520120002,J1520130001);高等学校博士学科点专项科研基金(20123218120025)
- DOI：10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2014.02.042
  中图分类号：
- 稿件说明：
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杨吟飞, 万云, 何宁, 等. 基于电子散斑干涉技术的微变形场测量及残余应力分析[J]. 机械制造与自动化, 2014,43(2):144-146.

杨吟飞, 万云, 何宁, et al. 基于电子散斑干涉技术的微变形场测量及残余应力分析[J]. 2014, 43(2): 144-146.
杨吟飞, 万云, 何宁, 等. 基于电子散斑干涉技术的微变形场测量及残余应力分析[J]. 机械制造与自动化, 2014,43(2):144-146. DOI： 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2014.02.042.

杨吟飞, 万云, 何宁, et al. 基于电子散斑干涉技术的微变形场测量及残余应力分析[J]. 2014, 43(2): 144-146. DOI： 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2014.02.042.

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