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刘西锋, 胡玉薇. 基于轮廓提取的电路板缺陷检测[J]. 机械制造与自动化, 2018,47(2):171-174.
刘西锋, 胡玉薇. 基于轮廓提取的电路板缺陷检测[J]. 2018, 47(2): 171-174.
刘西锋, 胡玉薇. 基于轮廓提取的电路板缺陷检测[J]. 机械制造与自动化, 2018,47(2):171-174. DOI: 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2018.02.047.
刘西锋, 胡玉薇. 基于轮廓提取的电路板缺陷检测[J]. 2018, 47(2): 171-174. DOI: 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2018.02.047.
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