Chinese
您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
基于BP神经网络的碳化硅MOSFET栅极老化监测方法研究
电气与自动化 | 更新时间：2026-07-30

    • 基于BP神经网络的碳化硅MOSFET栅极老化监测方法研究

    • 基于BP神经网络的碳化硅MOSFET栅极老化监测方法研究

    • 机械制造与自动化   2023年52卷第4期 页码：193-195+201

    • DOI：10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2023.04.048    

      中图分类号：

    移动端阅览

  • 陈一凡, 王景霖, 崔江, 等. 基于BP神经网络的碳化硅MOSFET栅极老化监测方法研究[J]. 机械制造与自动化, 2023,52(4):193-195+201. DOI： 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2023.04.048.

    陈一凡, 王景霖, 崔江, et al. 基于BP神经网络的碳化硅MOSFET栅极老化监测方法研究[J]. 2023, 52(4): 193-195+201. DOI： 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2023.04.048.

  •  
  •  
icon
试读结束，您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束，您可以通过登录账户，到个人中心，购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员？
去登录 >

0

浏览量

0

下载量

0

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。
提交
工具集
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

暂无数据

相关作者

暂无数据

相关机构

暂无数据
0