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吴传冬, 张彦, 蔡康捷, 等. 掩膜电化学沉积缺陷去除数值分析及实验研究[J]. 机械制造与自动化, 2023,52(5):108-110+114.
吴传冬, 张彦, 蔡康捷, et al. 掩膜电化学沉积缺陷去除数值分析及实验研究[J]. 2023, 52(5): 108-110+114.
吴传冬, 张彦, 蔡康捷, 等. 掩膜电化学沉积缺陷去除数值分析及实验研究[J]. 机械制造与自动化, 2023,52(5):108-110+114. DOI: 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2023.05.025.
吴传冬, 张彦, 蔡康捷, et al. 掩膜电化学沉积缺陷去除数值分析及实验研究[J]. 2023, 52(5): 108-110+114. DOI: 10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2023.05.025.
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