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退火温度对ZrW2O8薄膜结构和结合力的影响
更新时间：2026-07-27

    • 退火温度对ZrW2O8薄膜结构和结合力的影响

    • Effects of annealing temperature on microstructure and cohesion of ZrW2O8 thin films

    • 江苏大学学报（自然科学版）   2008年29卷第2期

    • DOI：10.3969/j.issn.1671-7775.2008.02.009    

      中图分类号：

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  • 程晓农, 刘红飞, 张志萍, 等. 退火温度对ZrW2O8薄膜结构和结合力的影响[J]. 江苏大学学报（自然科学版）, 2008,29(2). DOI： 10.3969/j.issn.1671-7775.2008.02.009.

    程晓农, 刘红飞, 张志萍, et al. Effects of annealing temperature on microstructure and cohesion of ZrW2O8 thin films[J]. Journal of jiangsu University(Natural Science Edition), 2008, 29(2). DOI： 10.3969/j.issn.1671-7775.2008.02.009.

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