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基于虚拟仪器的薄膜电阻率测量系统设计
更新时间:2026-07-27
    • 基于虚拟仪器的薄膜电阻率测量系统设计

    • Design of thin film resistivity measurement system based on virtual instrumentation technology

    • 江苏大学学报(自然科学版)   2010年31卷第4期
    • DOI:10.3969/j.issn.1671-7775.2010.04.016    

      中图分类号:

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  • 潘海彬, 丁建宁, 李伯全, 等. 基于虚拟仪器的薄膜电阻率测量系统设计[J]. 江苏大学学报(自然科学版), 2010,31(4). DOI: 10.3969/j.issn.1671-7775.2010.04.016.

    潘海彬, 丁建宁, 李伯全, et al. Design of thin film resistivity measurement system based on virtual instrumentation technology[J]. Journal of jiangsu University(Natural Science Edition), 2010, 31(4). DOI: 10.3969/j.issn.1671-7775.2010.04.016. DOI:

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