基于结点电压增量的模拟电路多故障诊断方法研究

许军; 张耀辉; 陈圣俭

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基于结点电压增量的模拟电路多故障诊断方法研究

更新时间：2026-09-04

- 基于结点电压增量的模拟电路多故障诊断方法研究
- Study on the Analog Circuit Multi-fault Diagnosis Based on Node Voltage Increments
- 微电子学与计算机 2015年32卷第2期页码：138-141
- 作者机构：
  
  装甲兵工程学院,北京,100072
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金项目"基于边界扫描技术的混合信号系统机内自测试研究"(61179001)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2015
- 稿件说明：
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许军, 张耀辉, 陈圣俭. 基于结点电压增量的模拟电路多故障诊断方法研究[J]. 微电子学与计算机, 2015, 32(2): 138-141,147.

XU Jun, ZHANG Yao-hui, CHEN Sheng-jian. Study on the Analog Circuit Multi-fault Diagnosis Based on Node Voltage Increments[J]. 2015, 32(2): 138-141.
许军, 张耀辉, 陈圣俭. 基于结点电压增量的模拟电路多故障诊断方法研究[J]. 微电子学与计算机, 2015, 32(2): 138-141,147. DOI：

XU Jun, ZHANG Yao-hui, CHEN Sheng-jian. Study on the Analog Circuit Multi-fault Diagnosis Based on Node Voltage Increments[J]. 2015, 32(2): 138-141. DOI：

摘要

针对模拟电路多故障诊断中经常可能遇到的可测点不足和测试量受限的问题

提出了基于结点电压增量的模拟电路多故障诊断方法.推导了基于4个测试点电压增量的双故障诊断方程

给出了诊断流程和仿真实例.理论分析和实验结果表明

该方法可用于线性模拟电路的多故障诊断

对硬故障和软故障均有效

在可测点不足和测试量受限的条件下具有优越性

适合大规模线性模拟电路的多故障诊断和测试.

Abstract

For the test nodes shortfall and the test variable conditionality in the analog circuit Multi-fault diagnosis

a analog circuit Multi-fault diagnosis method is brought forward based on node voltage increments. The equation of double-fault diagnosis is deduced using 4 test node voltage increments

and that the diagnosis flow and examples are explained in this paper. The theory analysis and the experimental result show that the new method can diagnose Multi-fault of linear circuits

and is effective hard-fault and soft-fault. The method has an advantage in the condition of the test nodes shortfall and the test variable conditionality

and adapts to large-scale linear analog circuit Multi-fault diagnosis and testing.

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