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基于背景纹影技术的随机介质折射率场测量
燃烧、传热、传质 | 更新时间：2026-07-07

    • 基于背景纹影技术的随机介质折射率场测量

    • Refractive index field measurement of random medium based on background oriented schlieren

    • 航空动力学报   2017年32卷第11期 页码：2653-2658

    • DOI：10.13224/j.cnki.jasp.2017.11.012    

      中图分类号：

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  • 高磊, 许东. 基于背景纹影技术的随机介质折射率场测量[J]. 航空动力学报, 2017,32(11):2653-2658. DOI： 10.13224/j.cnki.jasp.2017.11.012.

    高磊, 许东. Refractive index field measurement of random medium based on background oriented schlieren[J]. 2017, 32(11): 2653-2658. DOI： 10.13224/j.cnki.jasp.2017.11.012.

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